7900 ICP-MS如何消除質(zhì)譜干擾?

安捷倫7900 ICP-MS主要通過其核心的第四代八極桿碰撞/反應池系統(tǒng)（ORS4）來消除質(zhì)譜干擾。這套系統(tǒng)結(jié)合了多種物理和化學原理，能夠高效、靈活地應對不同類型的干擾，確保分析結(jié)果的準確性。

具體來說，它通過以下幾種主要模式和技術(shù)來實現(xiàn)干擾的消除：

?? 動能甄別 (KED) - 碰撞模式

這是常用且通用的干擾消除技術(shù)，通常使用惰性氣體氦氣（He）作為碰撞氣。

工作原理：當離子束進入充滿氦氣的碰撞池時，所有離子都會與氦原子發(fā)生碰撞。由于多原子干擾離子（如 ArO?、ArCl?）的體積通常比待測的單原子離子（如 Fe?、As?）更大，它們與氦原子碰撞的頻率更高，能量損失也更快。

篩選機制：在碰撞池出口處設置一個能量壁壘（歧視電壓），只有那些保留了足夠動能的“小而快”的待測離子才能越過壁壘被檢測到，而“大而慢”的多原子干擾離子則被有效濾除。

應用優(yōu)勢：He-KED模式非常強大且通用，可以在一套條件下同時去除多種常見的多原子離子干擾，方法開發(fā)簡單，特別適用于基體復雜或干擾物未知的樣品。

?? 化學反應 - 反應模式

對于某些難以用碰撞模式去除的頑固干擾，7900 ICP-MS可以利用反應性氣體（如氨氣NH?、氧氣O?、氫氣H?等）引發(fā)化學反應來解決。主要有兩種策略：

質(zhì)量轉(zhuǎn)移 (Mass-shift)

工作原理：讓待測離子或干擾離子與反應氣體發(fā)生化學反應，生成一個質(zhì)量數(shù)全不同的新離子，從而將目標信號從原來的干擾位置“轉(zhuǎn)移”到一個沒有干擾的、干凈的質(zhì)量數(shù)上進行檢測。

典型應用：例如，在測定砷（??As?）時，會受到來自鹽酸基體的??Ar3?Cl?的嚴重干擾。通過通入氨氣（NH?），可以使As?與NH?反應生成加合物離子（如 As(NH?)??），在新的質(zhì)量數(shù)（如 m/z 91）上進行定量，從而全避開m/z 75處的干擾。

原位測量 (On-mass)

工作原理：與質(zhì)量轉(zhuǎn)移相反，這種模式下是讓干擾離子更容易與反應氣體反應而被消耗掉，而待測離子不發(fā)生反應，仍在原始質(zhì)量數(shù)上進行檢測。

典型應用：例如，在測定鈣（??Ca?）時，會受到等離子體本身產(chǎn)生的??Ar?的干擾。通入氨氣后，電離能較低的??Ar?會與NH?發(fā)生電荷轉(zhuǎn)移反應而被中和，而作為待測物的??Ca?則不反應，從而實現(xiàn)干擾的清除。

??? 冷等離子體技術(shù) (Cold Plasma)

這是一種特殊的儀器工作模式，用于解決特定元素的背景干擾問題。

工作原理：通過降低射頻功率（通常為450-750W），使等離子體炬焰的中心通道溫度降低（約2500-3000K）。

效果：在這種較低的溫度下，由氬氣（Ar）、水（H?O）和空氣（N?）形成的多原子離子（如 Ar?、ArO?、NO?等）的產(chǎn)率會顯著下降，從而大幅降低背景信號。

適用場景：該技術(shù)能有效提高鉀（K）、鈣（Ca）、鐵（Fe）等易受Ar基多原子離子干擾的元素的信噪比和檢出限。

安捷倫7900 ICP-MS通過智能組合運用 He-KED碰撞模式、反應池化學反應以及冷等離子體技術(shù)，構(gòu)建了一套多層次、立體化的干擾消除方案，能夠從容應對從常規(guī)樣品到高純試劑、從簡單基體到復雜基體的各種分析挑戰(zhàn)。